전기화상으로 인한 두피결손, 두개골 및 뇌실질손상 - 증례보고 -
Scalp Defect, Injuries of Skull and Brain Parenchyme Caused by High Voltage Electrical Burn - A Case Report -
소속 상세정보
최진환/Jin Hwan Choi
김성민/심영보/장영철/박용기/최선길/Sung Min Kim/Young Bo Shim/Young Chul Chang/Yong Kee Park/Sun Kil Choi
KMID : 0359819980270070985
Abstract
서론
고압전기에 의한 손상은 고전압기기의 사용증가에 따라 늘어나고 있으나 고압전기에 의한
중추신경계손상은 매우 드물게 보고되고 있다. 본 저자들은 22,900V의 고압직류에 의해 두
피, 두개골 및 뇌실질이 손상되어 두피결손, 두개골 괴사 감염 및 신경학적 장애가 발생되어
뇌실질 및 경막생검과 동시에 늑골을 이용한 두개골성형 및 두피정형술을 시행했던 환자의
예를 경험하였기에 환자의 병력, 방사선학적 및 병리학적 소견을 문헌고찰과 함께 보고한다.
#초록#
The authors describe a case of accidental electrical injury from high voltage direct
current in a young worker, who was struck by the electric shock in the left
occipito-parietal region.
This case is interesting due to the development of left occipito-parietal parenchymal
brain lesion with transient anomic aphasia and visual disturbances. We believe that is
first report on parenchymal brain injury due to high voltage electrical burn confirmed
pathologically in Korea. The patient had full thickness scalp defect, skull necrosis, and
parenchymal brain injury. We performed one stage brain and dural biopsy with split rib
graft cranioplasty after removal of devitalized skull and scalp flap surgery. The clinical
presentation, radiological, pathological finding, and outcome are reviewed.
키워드
High voltage-electrical burn; Brain parenchymal injury; Brain biopsy; Split rib graft cranioplasty;
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